광학 DVD 드라이브에서는 기록 용량과 전송 속도 향상을 위한 많은 연구가 진행되고 있습니다. 이번 실험에서는 Coil을 이용한 서보방식으로 작동하는 모델을 사용합니다. 작동 원리를 설명하면, 레이저 빔이 대물렌즈를 통해 디스크에 집중되고 여기서 반사된 레이저 빔에서 데이터 신호와 서보 신호가 파생되면서 작동합니다. 이 때, 디스크 모양이 완벽하지 않기 때문에 렌즈는 2 방향으로 작동시켜야하며 렌즈 액츄에이터가 렌즈 위치를 지정하는 서보 루프가 가지는 특정 대역폭 내에 있어야 안정적으로 작동합니다.
Probe Card는 전자 테스트 시스템과 반도체 웨이퍼 사이의 인터페이스로 인쇄 회로 기판(PCB)과 일부 형태의 접촉 요소로 구성됩니다. Probe Card는Wafer Prober에 삽입되며, 그 내부에서Prober와Wafer 사이에 접촉에 정확하게 이루어지도록 Wafer의 위치를 조정하며 실험을 진행합니다. 이때 Probe Card의 효율은 Probe Card와Wafer사이의 접촉부를 변형 시킬 수 있는 여러 요인 중 온도로 인한 변형과 이로 웨이퍼의 밀림현상 중점으로 분석합니다.
미세 충돌로 인해 범퍼가 손상되는 경우, 차량 디자인에 따라 범퍼 실 수리비용이 많게는 몇 백만원이 들기도 합니다. 따라서 효과적인 범퍼를 생산하고 보험비용을 줄이기 위하여 본 저속 충돌 테스트를 수행합니다.
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아래 표에서 2타입의 차량의 수리비용을 살펴보면 K5의 경우 전후방 범퍼 수리비용이 약2 백만 원 (1800 $)인 반면 New SM5의 경우에는 같은 조건에서 360 만 원 (3200 달러)이 필요합니다. 자동차 보험료는 먼저 저속 충돌테스트 결과를 바탕으로 예상 수리비용을 산정하고 그 다음 추정 수리에 따라 최종 계약 보험료가 결정됩니다.
